
 
                        
簡要描述:薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
 產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家 更新時間:2024-06-04
更新時間:2024-06-04 訪  問  量:3203
訪  問  量:3203相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 | 
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子 | 


產(chǎn)品咨詢
 地址:安徽省合肥市經(jīng)開區(qū)尚澤大都會A座2214
地址:安徽省合肥市經(jīng)開區(qū)尚澤大都會A座2214 郵箱:1053185136@qq.com
郵箱:1053185136@qq.com 傳真:
傳真: